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6ES7416-3ER05-0AB0安裝說明
本公司主要經(jīng)營:西門子S72/3/400、S71200、S71500全系列,觸摸屏6AV,DP接頭,6XV總線電纜,通訊模塊6GK系列,SITOP電源6EP系列。變頻調(diào)速器MM4,6RA70,6RA80系列及各種附件板子6SE7090,C98043等系列,6SE70,MM4系列及變頻調(diào)速器配件。數(shù)控伺服6SN,6FC,S120,G120。產(chǎn)品全新原裝,質(zhì)保一年
6ES7416-3ER05-0AB0設(shè)備不能正常運行。。 電源預(yù)算5 VDC 24 VDC 減 系統(tǒng)要求5 VDC 24 VDC 基本單元 需求 等于 電流平衡5 VDC 24 VDC 電流平衡 表C-1 從CPU 讀出的致命錯誤代碼及其描述 錯誤代碼描述 0000 無致命錯誤 0001 用戶程序校驗和錯誤 0002 編譯后的梯形圖程序校驗和錯誤 0003 掃描看門狗時錯誤 0004 內(nèi)部EEPROM 錯誤 0005 內(nèi)部EEPROM 用戶程序校驗和錯誤 0006 內(nèi)部EEPROM 配置參數(shù)(SDB0)校驗和錯誤 0007 內(nèi)部EEPROM 強制數(shù)據(jù)校驗和錯誤 0008 內(nèi)部EEPROM 缺省輸出表值校驗和錯誤 0009 內(nèi)部EEPROM 用戶數(shù)據(jù)DB1 校驗和錯誤 000A 存儲器卡失靈 000B 存儲器卡上用戶程序校驗和錯誤 000C 存儲卡配置參數(shù)(SDB0)校驗和錯誤 000D 存儲器卡強制數(shù)據(jù)校驗和錯誤 000E 存儲器卡缺省輸出表值校驗和錯誤 000F 存儲器卡用戶數(shù)據(jù)DB1 校驗和錯誤 0010 內(nèi)部軟件錯誤 00111 比較接點間接尋址錯誤 000121 比較接點非法值錯誤 0013 存儲器卡空,或者CPU 不識別該程序 00141 比較接點范圍錯誤 1 比較接點錯誤是*的一種錯誤,即能產(chǎn)生致命錯誤又能產(chǎn)生非致命錯誤?,F(xiàn)在把SM374按照您需要模擬的模塊來組態(tài),就是說;
絕緣柵雙極型晶體管 IGBT 是由 MOSFET 和雙極型晶體管復(fù)合而成的一種器件 , 其輸入極為 MOSFET, 輸出極為 PNP 晶體管 , 因此 , 可以把其看作是 MOS 輸入的達林頓管。它融和了這兩種器件的優(yōu)點 , 既具有 MOSFET 器件驅(qū)動簡單和快速的優(yōu)點 , 又具有雙極型器件容量大的優(yōu)點 , 因而 , 在現(xiàn)代電力電子技術(shù)中得到了越來越廣泛的應(yīng)用。
在中大功率的開關(guān)電源裝置中 ,IGBT 由于其控制驅(qū)動電路簡單、工作頻率較高、容量較大的特點 , 已逐步取代晶閘管或 GTO 。但是在開關(guān)電源裝置中 , 由于它工作在高頻與高電壓、大電流的條件下 , 使得它容易損壞 , 另外 , 電源作為系統(tǒng)的前級 , 由于受電網(wǎng)波動、雷擊等原因的影響使得它所承受的應(yīng)力更大 , 故 IGBT 的可靠性直接關(guān)系到電源的可靠性。因而 , 在選擇 IGBT 時除了要作降額考慮外 , 對 IGBT 的保護設(shè)計也是電源設(shè)計時需要重點考慮的一個環(huán)節(jié)。
IGBT:
1、可以等效為(或理解為):場效應(yīng)管與大功率三極管組成的復(fù)合管。
2、特性類似于場效應(yīng)管。輸入阻抗非常高,輸出阻抗低,驅(qū)動功率非常小,主要是結(jié)電容引起的驅(qū)動電流、放大倍數(shù)高。
3、開關(guān)頻率較高,耐壓高、通流能力強(額定電流大)。
4、主要用于:變頻器(逆變)、電磁爐,中、大功率逆變、氬弧焊機等、高頻電源
IGBT模塊FD300R12KE3
IGBT模塊CM400HA-24A
IGBT模塊FZ1200R16KF4_S1
IGBT模塊6SY7000-0AC37
IGBT模塊FZ1200R12KF5
IGBT模塊6SY7000-0AC77
IGBT模塊FF150R12KE3G
IGBT模塊1MBI300SA-120B-52
IGBT模塊1MBI200SA-120B-52
IGBT模塊SKIIP 11NAB063T42
IGBT模塊FF200R12KE3
IGBT模塊BSM25GP120
IGBT模塊FZ1000R12KF5
IGBT模塊6SY7000-0AC80
IGBT模塊6SY7000-0AD33
IGBT模塊FZ1000R16KF4
IGBT模塊6SY7000-0AD04
IGBT模塊6SY7000-0AC85
IGBT模塊SKM200GB128D
IGBT模塊FZ2400R17KE3
6ES7416-3ER05-0AB047:為什么用商用數(shù)字萬用表在模擬輸入塊上不能讀出用于讀取阻抗的恒定電流? 2.合上控制繼電器電源的空氣開關(guān)??梢圆扇⊥ㄟ^GSD文件將ET200從站組態(tài)進你的系統(tǒng)。
IGBT 的等效電路如圖 1 所示。由圖 1 可知 , 若在 IGBT 的柵極和發(fā)射極之間加上驅(qū)動正電壓 , 則 MOSFET 導(dǎo)通 , 這樣 PNP 晶體管的集電極與基極之間成低阻狀態(tài)而使得晶體管導(dǎo)通 ; 若 IGBT 的柵極和發(fā)射極之間電壓為 0V, 則 MOSFET 截止 , 切斷 PNP 晶體管基極電流的供給 , 使得晶體管截止
由此可知 ,IGBT 的安全可靠與否主要由以下因素決定:
—— IGBT 柵極與發(fā)射極之間的電壓 ;
如果 IGBT 柵極與發(fā)射極之間的電壓 , 即驅(qū)動電壓過低 , 則 IGBT 不能穩(wěn)定正常地工作 , 如果過高過柵極-發(fā)射極之間的耐壓則 IGBT 可能*性損壞 ; 同樣 , 如果加在 IGBT 集電極與發(fā)射極允許的電壓過集電極-發(fā)射極之間的耐壓 , 流過 IGBT 集電極-發(fā)射極的電流過集電極-發(fā)射極允許的*電流 ,IGBT 的結(jié)溫過其結(jié)溫的允許值 ,IGBT 都可能會*性損壞。
3 柵極串聯(lián)電阻對柵極驅(qū)動波形的影響
柵極驅(qū)動電壓的上升、下降速率對 IGBT 開通關(guān)斷過程有著較大的影響。 IGBT 的 MOS 溝道受柵極電壓的直接控制,而 MOSFET 部分的漏極電流控制著雙極部分的柵極電流,使得 IGBT 的開通特性主要決定于它的 MOSFET 部分,所以 IGBT 的開通受柵極驅(qū)動波形的影響較大。 IGBT 的關(guān)斷特性主要取決于內(nèi)部少子的復(fù)合速率,少子的復(fù)合受 MOSFET 的關(guān)斷影響,所以柵極驅(qū)動對 IGBT 的關(guān)斷也有影響。
在高頻應(yīng)用時,驅(qū)動電壓的上升、下降速率應(yīng)快一些,以提高 IGBT 開關(guān)速率降低損耗。
IGBT模塊BSM300GA170DN2S
IGBT模塊6SY7000-0AC61
IGBT模塊1MBI400NA-120-02
IGBT模塊6SY7000-0AF07
IGBT模塊SKM400GA124D
IGBT模塊FZ800R16KF4
IGBT模塊FZ3600R17HE4
IGBT模塊A5E02507176
IGBT模塊FZ3600R17HE4P
IGBT模塊FZ2400R17HE4P_B9
IGBT模塊FZ1800R12KF4_S1
IGBT模塊6SY7000-0AD51
IGBT模塊FZ1600R17HP4_B2
IGBT模塊FZ1200R17KE3_S1
IGBT模塊FZ1200R17KE3
IGBT模塊FZ1200R17HE4P
IGBT模塊FZ1200R16KF4
IGBT模塊FZ1200R12KL4C
IGBT模塊BSM75GD120DN2
IGBT模塊BSM50GD120DN2G
6ES7416-3ER05-0AB0一個完整的用戶軟件由以下幾個部分構(gòu)成:另外STEP7CD包含文件SimaticSTEP7.msi。
2 保護措施
在進行電路設(shè)計時 , 應(yīng)針對影響 IGBT 可靠性的因素 , 有的放矢地采取相應(yīng)的保護措施。
2 . 1 IGBT 柵極的保護
IGBT 的柵極-發(fā)射極驅(qū)動電壓 VGE 的保證值為 ± 20V, 如果在它的柵極與發(fā)射極之間加上出保證值的電壓 , 則可能會損壞 IGBT, 因此 , 在 IGBT 的驅(qū)動電路中應(yīng)當(dāng)設(shè)置柵壓限幅電路。另外 , 若 IGBT 的柵極與發(fā)射極間開路 , 而在其集電極與發(fā)射極之間加上電壓 , 則隨著集電極電位的變化 , 由于柵極與集電極和發(fā)射極之間寄生電容的存在 , 使得柵極電位升高 , 集電極-發(fā)射極有電流流過。這時若集電極和發(fā)射極間處于高壓狀態(tài)時 , 可能會使 IGBT 發(fā)熱甚至損壞。如果設(shè)備在運輸或振動過程中使得柵極回路斷開 , 在不被察覺的情況下給主電路加上電壓 , 則 IGBT 就可能會損壞。為防止此類情況發(fā)生 , 應(yīng)在 IGBT 的柵極與發(fā)射極間并接一只幾十 k Ω 的電阻 , 此電阻應(yīng)盡量靠近柵極與發(fā)射極。如圖 2 所示。
由于 IGBT 是功率 MOSFET 和 PNP 雙極晶體管的復(fù)合體 , 特別是其柵極為 MOS 結(jié)構(gòu) , 因此除了上述應(yīng)有的保護之外 , 就像其他 MOS 結(jié)構(gòu)器件一樣 ,IGBT 對于靜電壓也是十分敏感的 , 故而對 IGBT 進行裝配焊接作業(yè)時也必須注意以下事項:
2 集電極與發(fā)射極間的過壓保護
過電壓的產(chǎn)生主要有兩種情況 , 一種是施加到 IGBT 集電極-發(fā)射極間的直流電壓過高 , 另一種為集電極-發(fā)射極上的浪涌電壓過高。
2.2.1 直流過電壓
直流過壓產(chǎn)生的原因是由于輸入交流電源或 IGBT 的前一級輸入發(fā)生異常所致。解決的辦法是在選取 IGBT 時 , 進行降額設(shè)計 ; 另外 , 可在檢測出這一過壓時分斷 IGBT 的輸入 , 保證 IGBT 的安全。
2.2.2 浪涌電壓的保護
因為電路中分布電感的存在 , 加之 IGBT 的開關(guān)速度較高 , 當(dāng) IGBT 關(guān)斷時及與之并接的反向恢復(fù)二極管逆向恢復(fù)時 , 就會產(chǎn)生很大的浪涌電壓 Ldi/dt, 威脅 IGBT 的安全。
由以上分析可知,柵極串聯(lián)電阻和驅(qū)動電路內(nèi)阻抗對 IGBT 的開通過程影響較大,而對關(guān)斷過程影響小一些,串聯(lián)電阻小有利于加快關(guān)斷速率,減小關(guān)斷損耗,但過小會造成 di/dt 過大,產(chǎn)生較大的集電極電壓尖峰。因此對串聯(lián)電阻要根據(jù)具體設(shè)計要求進行全面綜合的考慮。
柵極電阻對驅(qū)動脈沖的波形也有影響。電阻值過小時會造成脈沖振蕩,過大時脈沖波形的前后沿會發(fā)生延遲和變緩。 IGBT 的柵極輸入電容 Cge 隨著其額定電流容量的增加而增大。為了保持相同的驅(qū)動脈沖前后沿速率,對于電流容量大的 IGBT 器件,應(yīng)提供較大的前后沿充電電流。為此,柵極串聯(lián)電阻的電阻值應(yīng)隨著 IGBT 電流容量的增加而減小。
IGBT模塊6SY7000-0AA82
IGBT模塊6RY1700-0AA03
IGBT模塊2MBI150S-120-52
IGBT模塊2MBI100S-120-52
IGBT模塊1MBI400S-120
IGBT模塊FZ900R16KF4
IGBT模塊FZ900R16KF4
IGBT模塊FZ800R16KF4
IGBT模塊FZ2400R17KE3_B9_S1
IGBT模塊FZ1000R16KF4
IGBT模塊FS300R12KE4
IGBT模塊6SY7000-0AF11
IGBT模塊6SY7000-0AF11
6ES7416-3ER05-0AB0R011:開關(guān)量輸出狀態(tài),第0位代表46端子重故障,第7位代表109/110 對于大型設(shè)備,由于需要短路接地監(jiān)控,必須采取浮動參考電位來安裝S7-300。
6SL3120-2TE15-0AA4安裝說明:http://txq45632206.testmart.cn/